BW-3010B
晶體管光耦參數測試儀（雙功能版）
BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中，測試條件可以任意設置，測試正向壓降和輸出電流可達1A，操作簡便，實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。
產品電氣參數：
產品信息
產品型號：BW-3022A
產品名稱：晶體管光耦參數測試儀；
物理規格
主機尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)
主機重量：＜4.5Kg
主機顏色：白色系
電氣環境
主機功耗：＜75W
環境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度：≯85%；
大氣壓力：86Kpa～106Kpa；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；
電網要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續；
服務領域：
應用場景：
?選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
?檢驗篩選（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
產品特點：
?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單
?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.
?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V；
?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題；
?軟件自校準功能；
?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試；
?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型，顯示測試結果是否合格,并有聲光提示；
?兩種工作模式：手動、自動測試模式。
BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系
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型號類型
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P1
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T1
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P2
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T2
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P3
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T3
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P4
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T4
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光藕PC817
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A
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A測試端
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K
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K測試端
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E
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E測試端
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C
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C測試端
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BW-3010B測試技術指標：
1、光電傳感器指標:
輸入正向壓降(VF)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2V
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2mV
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<1%+2RD
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0-1000MA
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反向電流(Ir)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-200UA
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0.2UA
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<2%+2RD
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VR:0-20V
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集電極電流(Ic)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-40mA
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0.2MA
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<1%+2RD
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VCE:0-20V IF:0-40MA
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輸出導通壓降(VCE(sat))
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2.000V
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2mV
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1% +5RD
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IC：0-40mA
IF:0-40mA
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輸出漏電流(Iceo)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2.000mA
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2UA
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<2%+2RD
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VR:0-20V
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2、光電耦合器：
耐壓(VCEO)測試指標
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-1400V
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1V
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<2%+2RD
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0-2mA
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輸入正向壓降(VF)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2V
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2mV
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<1%+2RD
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0-1000MA
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反向漏電流(ICEO)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2000uA
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1UA
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<5% +5RD
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BVCE=25V
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反向漏電流(IR)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2000uA
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1UA
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<5% +5RD
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VR=0-20V
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電流傳輸比(CTR)
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-9999
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1%
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1% +5RD
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BVCE：0-20V
IF:0-100MA
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輸出導通壓降(VCE(sat))
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測試范圍
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分辨率
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精度
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測試條件
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0-2.000V
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2mV
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1% +5RD
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IC：0-1.000A
IF:0-1.000A
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可分檔位總數：10檔
BW-3010B測試定義與規范：
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.
VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.
Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.
Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.
CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。
CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。
Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。
Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。
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