價格 | 面議 | 起訂量 | 1件起訂 |
更新時間 | 2024-08-19 | 區域 | 陜西省·西安 |
BW-3010B
晶體管光耦參數測試儀(雙功能版)
BW-3010B型光藕參數測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數測試及參數”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數的設定,測試條件及數據同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設置,測試正向壓降和輸出電流可達1A,操作簡便,實用性強。廣泛應用與半導體電子行業、新能源行業、封裝測試、家電行業、科研教育等領域來料檢驗、產品選型等重要檢測設備之一。
產品電氣參數:
產品信息
產品型號:BW-3022A
產品名稱:晶體管光耦參數測試儀;
物理規格
主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)
主機重量:<4.5Kg
主機顏色:白色系
電氣環境
主機功耗:<75W
環境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);
相對濕度:≯85%;
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;
電網要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作時間:連續;
服務領域:
應用場景:
?選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較一致的器件進行分類配對)
?檢驗篩選(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
產品特點:
?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單
?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數.
?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V;
?重復”回路”式測試解決了元件發熱和間歇的問題;
?軟件自校準功能;
?自動測試測DUT短路、開路或誤接現象,如果發現,就立即停止測試;
?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結果是否合格,并有聲光提示;
?兩種工作模式:手動、自動測試模式。
BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系
型號類型 |
P1 |
T1 |
P2 |
T2 |
P3 |
T3 |
P4 |
T4 |
光藕PC817 |
A |
A測試端 |
K |
K測試端 |
E |
E測試端 |
C |
C測試端 |
BW-3010B測試技術指標:
1、光電傳感器指標:
輸入正向壓降(VF)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向電流(Ir)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-200UA |
0.2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
集電極電流(Ic)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-40mA |
0.2MA |
<1%+2RD |
VCE:0-20V IF:0-40MA |
輸出導通壓降(VCE(sat))
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC:0-40mA IF:0-40mA |
輸出漏電流(Iceo)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000mA |
2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
2、光電耦合器:
耐壓(VCEO)測試指標
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-1400V |
1V |
<2%+2RD |
0-2mA |
輸入正向壓降(VF)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向漏電流(ICEO)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
BVCE=25V |
反向漏電流(IR)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
VR=0-20V |
電流傳輸比(CTR)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-9999 |
1% |
1% +5RD |
BVCE:0-20V IF:0-100MA |
輸出導通壓降(VCE(sat))
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC:0-1.000A IF:0-1.000A |
可分檔位總數:10檔
BW-3010B測試定義與規范:
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.
VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.
Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.
Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.
CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。
CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。
Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。
Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。